Webster B韋氏硬度計檢測方法

韋氏硬度檢測方法起源于美國，由美國Webster公司生產(chǎn)Webster B韋氏硬度計。韋氏硬度計早在20世紀80年代就隨鋁型材生產(chǎn)線的引進而進入我國。由于其使用上的特點，應用逐年增多，且國內已能生產(chǎn)品質優(yōu)良的韋氏硬度計。現(xiàn)在已有韋氏硬度計計量檢定規(guī)程“金屬韋氏硬度計JJG944―1999（試行）”和有色金屬行業(yè)標準《鋁合金韋氏硬度試驗方法》YS/T420—2000和YS/T471—2004《銅合金韋氏硬度試驗方法》標準。但有關韋氏硬度的技術資料介紹較少。

韋氏硬度計原理
　　韋氏硬度計的基本原理是采用一定形狀的淬火壓針，在標準彈簧檢測力作用下壓入試樣表面，定義0.0lmm的壓入深度為一個韋氏硬度單位。材料的硬度與壓入深度成反比。壓入越淺硬度越高，壓入越深硬度越低。
Webster B韋氏硬度計檢測方法計算公式
　　HW=20-L/0.01　　 (8—1)
　　式中：　HW——韋氏硬度符號；
　　　　　　L——壓針伸出長度，即壓入試樣深度/mm；
　　　　　　0.01——定義值/mm
　　硬度值的表示：如壓針只壓入深度0.05mm，表頭指針將指示在15刻度。表示為HW=20-5=15單位硬度值，將其書寫于硬度符號之前，即為15HW。
Webster B韋氏硬度計檢測方法結構
Webster B韋氏硬度計檢測方法全貌見圖1，

其結構見圖8―2，

壓針形狀見圖8―3。

如圖所示，硬度計由以下三個主要部件組成：框架、手柄、壓針組件。壓針組件包括壓針、負荷彈簧、調節(jié)螺母、壓針套筒、復位鍵、復位彈簧、表頭等。壓下手柄時，壓針組件作為一個整體移向砧座。

在壓下手柄過程中，壓金組件移向被測件，壓針*首先與被測件接觸。繼續(xù)壓緊手柄，會使壓針一部分刺入被測件，另一部分向后退入壓針套筒內，并與負荷彈簧的彈力相作用。

當壓針套筒的端面與被測件相抵時，即可感到已觸到底，此時表頭指針將指到一個硬度讀數(shù)，這就是被測件的硬度值。

硬度計的表頭安裝在壓針套筒的上端，指針由壓針的移動來驅動。對于特別硬的金屬，壓針將全部退入壓針套筒，直至其*與壓針套筒端面平齊。這是壓針的zui大行程位置，指針會指到20。對于特別軟的金屬，壓針*將全部壓入金屬中，而不會向壓針套筒內移動，這時表頭指針將保持在zui低位置不變。

韋氏硬度計技術參數(shù)見表

韋氏硬度計校準
　　1.標準硬度片
　　1）韋氏硬度計應配備標準硬度片，用于校準。
　　2）標準硬度片的工作面應標明韋氏硬度值和E標尺的洛氏硬度值。
　　2.校準要求
　　1）硬度計的滿刻度校準值為20HW，允許誤差為±0.5HW。
　　2）用標準硬度片校準硬度計，讀數(shù)應符合硬度片標明的硬度值，其允許誤差±0.5HW。
韋氏硬度計檢測方法

　1）將試樣置于砧座和壓針之間，壓針應與檢測面垂直，如圖8—4所示。輕輕壓下手柄，使壓針壓住試樣。
2）快速壓住手柄，施加足夠的力，使壓針套筒的端面緊壓在試樣上，從表頭讀出硬度值（精確到0.5HW）。超出限度的壓力下，會被彈簧平衡掉，不會損壞硬度計。
　　3）再次測量時兩相鄰壓痕中心間距離應不小于6mm。
　　4）在測量較軟金屬時，表頭指針會瞬間達到某一數(shù)值，隨后可能會稍有下降，此時測量以觀察到的zui大值為準。
　　5）在一般情況下，每個試樣至少測量3個點。以測量值的算數(shù)平均值作為試樣硬度值，計算結果修約到0.5HW